膜厚儀做為一種測量物體厚度的儀器，在很多的行業領域都得到了廣泛的應用，尤其是涂層測厚儀，擁有測量精度高，利用探頭接觸測量方式的優點。

　　光學膜厚測量儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。

　　光學膜厚測量儀的使用注意事項：

　　1.零點校準

　　在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準，因為之前的測量參數會影響該次對物體的測量，零點校準可以消除前次測量有參數的影響，能夠降低測量的結果的誤差，使測量結果更加。

　　2.基體厚度不宜過薄

　　在使用膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄，否則會大程度的影響儀器的測量精度，造成數據結果不，影響測量過程的正常進行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起探頭接觸不到，降低了涂層測厚儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑，以測量結果的性。

　　光學膜厚測量儀不測量這樣辦：

　　檢查探頭是否連接良好，插到位 查看探頭插頭插針情況。

　　檢查探頭線是否有斷的地方重點檢查探頭接插件處(接頭處可以旋鈕擰開查看)。

　　探頭頻繁使用，傳感器老化或損壞等。

　　其它主機線路元件故障咨詢公司售后服務或返廠檢修。