Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統產品介紹:
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統優勢:
XRF系統
高分辨率的固態探測器具有良好的元素分辨能力,無需二次濾波器。峰位長時間保持穩定,無需頻繁地進行再校準。與其他同類型設備相比,X射線管和探測器的閉合耦合幾何布局光子數有明顯提升。
直觀的用戶界面
Bowman配套軟件將為儀器的性能提供支持。Bowman XR F高精度鍍層測量系統的分析數據擁有強大的軟件作為支持,該軟件將擁有直觀的用戶界面,操作簡單友好。測量數據可通過批次號進行檢索,報告可一鍵生成。用戶可以無限制地創建新的應用程序和報告格式,所有結果自動保存到電腦數據庫,所有用戶級別都可以設置密碼保護。
廣泛的鍍層厚度測量范圍
BowmanXRF高精度鍍層測量系統可對13號鋁元素到92號鈾元素進行高精度測量分析。
單層鍍層:Au,Ag,Ni,Cu,Sn,Zn等
合金鍍層:ZnNi合金,SnPb合金等鍍層厚度和成分比例同時分析
雙層鍍層:Au/Ni/Cu,Sn/Ni/Cu,Cr/Ni/Fe等
三層鍍層:Au/Pd/Ni/Cu等
至多可分析5層鍍層
可同時分析25種元素成分
可分析電鍍溶液中的金屬離子濃度
可分析ROHS有害元素
Bowman XRF 高精度鍍層測量系統服務支持:
Bowman為用戶提供的XRF技術支持和服務。目前,除美國芝加哥總部外,Bowman已在全球四大洲二十余個國家建立了辦事處或機構。博曼始終致力于通過提供現場技術支持服務,從而成就用戶。Bowman在中國上海設有演示應用中心,培訓中心及備品配件庫,在深圳,杭州,西安設有辦事處。有能力為客戶提供貼心的鍍層厚度檢測方案和快速相應的售后服務。
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統配置:
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可以升級為包括多個準直器,可變焦距相機和SDD探測器。
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統測量原理:
?Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。當高能X射線照射金屬薄膜表面時,入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內層電子形成空穴。外層電子躍遷填補空穴時釋放特征X射線熒光,其能量與元素的原子序數一一對應,通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素,通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。
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Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統行業應用:
半導體 | 線路板 | 電鍍 | 汽車 |
航空航天 | 首飾/珠寶 | 連接器 | 緊固件 |
電子元器件 | 引線框架 | 管道 | 切削工具 |
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統產品參數:
元素測量范圍: | 13號鋁元素到92號鈾元素 |
X射線管: | 50W(50kV和1mA)微聚焦鎢靶射線管 |
探測器: | 準直:硅固態探測器,分辨率為190eV或更高 |
分析能力: | 5層(4層+基礎),每層10個元素。同時分析多達25種元素的成分 |
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